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供应 介电常数介质损耗测试仪 /GDAT-S  |
规 格： |
套 |
价 格： |
48000/ |
数 量： |
6 |
交货地： |
河北 |
发布时间： |
2025-06-23 |
有效期： |
255天 |
备 注： |
变压器介损测试仪（介质损耗因数测试仪）主要用于测量变压器绕组、套管等设备的介质损耗角正切值（tanδ）及等效电容，其工作原理与接线方法如下：
一、核心工作原理
交流阻抗法
通过施加特定频率（如50Hz或异频45Hz/55Hz）的交流电压，测量绝缘介质在电场作用下的极化与损耗现象，计算电流与电压的相位差以确定tanδ。
电桥平衡原理
采用西林电桥结构，将标准电容与试品电容构成平衡电路，调节电桥参数直至电流平衡，通过比例关系直接读出tanδ值和电容量。
数字化测量
现代仪器通过高速A/D转换器采集电压、电流波形，利用FFT算法提取相位差，结合电容模型计算介质损耗参数。
二、接线方法与适用场景
（一）正接法（常规测试）
适用场景：试品低压端对地绝缘（如变压器绕组、套管主绝缘）。
接线步骤：
高压输出线（红色）芯线接试品高压端（如绕组短接点），屏蔽层接地；
CX输入线（黑色）芯线接试品低压端（如套管末屏），屏蔽线接地或悬空；
非被试绕组及铁芯接地，保持试品与地绝缘良好。
注意：HV与CX的芯线与屏蔽线严禁短路，否则无法采样。
（二）反接法（特殊接地场景）
适用场景：试品低压端直接接地无法绝缘（如末屏对地绝缘电阻异常）。
接线步骤：
高压输出线芯线接试品高压端（如末屏抽头），屏蔽线悬空；
低压端接地，CX输入线不连接；
测试电压通常限制在2kV以内，避免绝缘击穿。
三、典型试验流程
预检准备
记录环境温湿度，确保试品表面清洁无污损；
短接非被试绕组并接地（如A、B、C高压绕组短接，低压a、x短接）。
操作流程
选择正/反接线模式并设置测试电压（常规10kV，反接≤2kV）；
启动升压，仪器自动计算tanδ与电容量，超阈值时触发告警；
测试完成后自动放电，断开接线。
安全规范
高压线悬空避免接触地面，防止附加介质损耗引入误差；
过流保护需在击穿后0.1秒内切断电源。
四、应用实例
测试对象 接线模式 关键参数
变压器绕组 正接法 tanδ≤0.5%（20℃基准）
电容型套管末屏 反接法 绝缘电阻>1000MΩ，tanδ≤0.023
互感器绕组 正接法 电容量变化率≤±3%
通过上述原理与接线规范，可有效评估变压器绝缘老化、受潮及局部缺陷，为设备状态检修提供数据支持。
变压器介损测试的关键注意事项，依据试验流程及安全要求分类整理：
测试前准备
试品预处理
清洁试品表面，确保无油污、灰尘或湿气，套管法兰及接线端子需干燥；
非被试绕组（如高压侧A/B/C）应短接并可靠接地，避免感应电压干扰。
仪器校核
检查介损测试仪接地状态，确保外壳电位与地一致（接地电阻≤4Ω）
变压器纸介电常数测试仪主要用于评估绝缘纸的极化性能及储能特性，其工作原理基于材料在交变电场下的电容响应与能量损耗特性，通过精密测量反映介电性能参数。
核心原理及方法如下：
一、核心测量原理
1. 电容法（低频测量）
利用平行板电容器结构，将变压器纸作为绝缘介质置于两极间，通过对比真空与介质状态下的电容比值计算介电常数（ε = C介质/C真空）。
公式推导：根据平行板电容公式 C = frac{varepsilon_0 varepsilon_r A}{d}C=
通过已知电极面积（A）、间距（d）和真空介电常数（ε₀），反推材料的相对介电常数εᵣ。
适用场景：变压器纸作为固体介质，通常在工频或低频（<1 MHz）下测试，满足电力设备应用需求。
2. 谐振法（高频测量）
通过引入谐振电路，测量插入变压器纸后谐振频率的偏移或品质因数（Q值）变化，间接计算介电常数及损耗因子。
操作要点：
线圈电感与样品电容构成谐振回路，频率偏移量Δf与介电常数成反比；
通过Q值变化评估介质损耗，适用于高频（MHz级）性能分析。
3. 矢量网络分析技术
现代仪器采用高速A/D转换器与数字信号处理（FFT算法），直接采样电压、电流波形，通过相位差计算复介电常数（实部ε’与虚部ε’’）。
优势：消除电磁干扰，精度可达0.1%，支持宽频带扫描（1 kHz~1 MHz）。
二、操作流程与关键步骤
步骤 技术要求 引用依据
样品制备 纸张需裁切平整，厚度均匀（±0.02 mm），表面清洁无油污
电极配置 采用圆形镀金电极（直径25~50 mm），确保与纸张接触紧密无气隙
仪器校准 使用标准聚四氟乙烯板（εᵣ=2.1）进行零点校准，消除系统误差
参数设定 频率选择50 Hz或1 kHz（模拟工频），测试电压≤500 V防止击穿
数据采集 记录稳定状态下的电容值及损耗角正切（tanδ），重复测量3次取均值
三、典型技术指标
介电常数范围：εᵣ=1.5~5.0（干燥变压器纸典型值为2.5~3.5）；
精度要求：电容测量误差≤±0.5%，相位分辨率≤0.01°；
环境控制：测试温度20±2℃，湿度<60% RH，避免吸潮影响数据。
四、应用意义
通过精确测定介电常数，可评估变压器纸的绝缘老化程度（如含水率升高导致εᵣ增大）或工艺缺陷（如厚度不均引起局部放电），为设备寿命预测及维护决策提供依据。
一、核心特性
精密测量系统
采用高频谐振法及电桥法相位差检测技术，通过对比标准电容器与待测样品的电流相位差，计算复介电常数（ε’ 和 ε’’）及介质损耗角正切（tanδ=ε’’/ε’），测量精度可达微伏级信号分辨。
配备三电极结构（保护电极、测量电极、高压电极），消除边缘效应误差，确保电场强度接近实际工况（如 IEC 60250 标准要求 1kV/mm）。
宽频与多参数覆盖
支持频率范围从低频（20Hz）至高频（1MHz），部分型号可扩展至射频范围，满足不同材料的电学特性分析需求。
同时测量电容、电感、电阻等参数，电容量覆盖范围从 3pF 至 30μF，适用于电容器、绝缘材料及复合材料的性能评估。
智能控制与扩展功能
集成自动化测试流程，通过 PID 算法实现温度控制（-40℃至200℃），部分型号支持液氮低温扩展，适应极端环境测试。
配备大容量存储和数据分析软件，支持数据导出、远程监控及报告生成，提升测试效率。
二、应用意义
材料研发与优化
通过介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）的精确测量，揭示材料的极化能力、能量损耗特性及微观结构，指导新材料的开发与改性（如纳米复合材料表面处理优化）。
工业质量控制
在电力系统中，检测绝缘材料（如高压电缆）的介质损耗可预防因温升导致的绝缘层老化或击穿事故，保障设备安全运行。
优化电容器、电感器等电子元件的介质材料选择，提升高频工作条件下的 Q 值及元件寿命。
科研与标准验证
研究介电驰豫现象及材料老化机制，通过不同频率和温度下的介电性能分析，揭示材料分子运动规律，为理论模型提供数据支撑。
验证材料是否符合国际标准（如 IEC 60250），推动行业技术规范的制定与更新。
总结：介电常数介质损耗测试仪通过高精度测量与智能化设计，为材料科学、工业制造及基础研究提供关键数据，是保障材料性能优化和设备安全的核心工具。 |
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